방법 106
각도 위치 결정 시험
1. 시험 목적
각도 위치 제어 상태에서 360° 범위 내의 임의의 제어된 각도 위치에서 시험용 턴테이블의 반복성과 위치 결정 정확도.
2. 시험 장비
소각도 측정기;
분해능이 0.1" 이상인 광전 자동 콜리메이터 (이하 광학 튜브라 함);
360개의 이빨을 가진 다중 이빨 인덱싱 테이블 (이하 360 이빨 디스크라 함) 및 평면 거울;
391개의 이빨을 가진 다중 이빨 인덱싱 테이블 (이하 391 이빨 디스크라 함) 및 평면 거울;
23면 프리즘, 레벨 1;
24면 프리즘, 레벨 1.
3. 시험 환경 조건
주변 온도: 20±2℃;
상대 습도: <70%.
진동 절연 요구 사항: 시험 대상 턴테이블은 진동 절연 기초 위에 배치되어야 하며, 주변에 심각한 진동이나 충격이 없어야 합니다.
전자기장 요구 사항: 시험 장소 주변에 강한 전자기 간섭이 없어야 합니다.
4. 시험 방법
시험 전에, 측정 대상 축의 회전 중심에 다중 이빨 디스크와 평면 거울 또는 다면 프리즘을 설치합니다. 광학 튜브를 측정 대상 축의 고정 부분 또는 잘 절연된 기초 위에 설치하고, 광학 튜브의 광축이 평면 거울 또는 프리즘 면에 수직이 되도록 합니다. 턴테이블을 시작하고 각도 위치 제어 상태에서 정상적이고 안정적으로 작동하는지 확인합니다.
4.1 직접 시험 방법
4.1.1 각도 위치 결정 반복성
실험에서는 23면 프리즘 또는 391 이빨 디스크와 평면 거울을 사용합니다. 시험 대상 축의 임의의 각도 위치 θ₁에서 시작하여, 프리즘의 면 I 또는 평면 거울을 광학 튜브에 정렬하고 광학 튜브 판독값 a₁i를 기록합니다. 그런 다음, 순차적으로 위치 명령 Ai (i=1,…,23)를 부여하여 시험 대상 축을 프리즘의 지정된 각도 값만큼 회전시키고 해당 광학 튜브 판독값 a₁i를 기록합니다. 그런 다음, θ₁에서 시작하여 반대 방향으로 시험 대상 축을 회전시키고 위의 실험을 반복하여 해당 광학 튜브 판독값 a₂i를 기록합니다. 다중 이빨 디스크를 사용하는 경우, 평면 거울을 광학 튜브에 정렬하기 위해 회전 축이 회전한 각도만큼 반대 방향으로 디스크를 회전시켜야 합니다.
4.1.2 각도 위치 결정 정확도
4.1.2.1 구성 요소 시험 방법
4.1.2.1.1 인덱싱 정확도
실험에서는 24면 프리즘 또는 360 이빨 디스크와 평면 거울을 사용합니다. 측정 대상 축의 각도 위치 측정 시스템의 디지털 디스플레이에서 0 위치에서 시작하여, 프리즘의 면 I 또는 다중 이빨 디스크의 0 위치를 광학 튜브에 정렬하고 광학 튜브 판독값 a₁을 기록합니다. 그런 다음, 순차적으로 위치 명령 Ai (i=1,…,24)를 부여하여 측정 대상 축을 프리즘의 지정된 각도 위치만큼 회전시키고 광학 튜브 판독값 a₁i를 기록합니다. 다중 이빨 디스크를 사용하는 경우, 평면 거울을 광학 튜브에 정렬하기 위해 측정 대상 축이 회전한 각도만큼 반대 방향으로 디스크를 회전시켜야 합니다.
4.1.2.1.2 분할 정확도
소각도 측정기를 사용하여, 선택된 소각도 측정기의 특정 요구 사항에 따라, 회전 부분을 측정 대상 축에 장착하고, 고정 부분을 측정 대상 축의 고정 부분 또는 양호한 진동 절연 기초에 장착합니다.
측정 대상 축의 360° 범위 내에서 세 개의 각도 위치를 선택하여 분할 시험을 수행합니다. 각도 위치 측정 시스템은 0° 위치에서 사용되었으며, 인덱싱 정확도 시험에서 얻은 최대 양수 및 음수 오차의 각도 위치 θm 및 θn을 사용합니다. 분할 각도 간격의 선택은 다음과 같습니다. 720극 유도 동기 장치를 각도 측정 요소로 사용하는 경우, 분할 각도 간격은 1°이고, 분할 지점 수는 17개입니다. 다른 각도 측정 요소를 사용하는 경우, 각도 간격은 분할의 한 사이클로 선택되고, 분할 지점 수는 9개 이상입니다.
0° 위치 분할 정확도 시험은 측정 대상 축 각도 위치 측정 시스템의 0° 위치에서 시작합니다. 소각도 측정기 판독값 b₀₁을 기록하고, 순차적으로 위치 명령 Bi (i=1,…17)를 부여하여 측정 대상 축을 매번 1°/17씩 회전시키고 소각도 측정기 판독값 b₀i를 기록합니다.
θm 및 θn의 위치 분할 정확도에 대한 시험 방법은 위와 동일하며, 소각도 측정기 판독값은 각각 b₁i 및 b₂i로 기록됩니다.
4.1.2.2 종합 시험 방법
실험에서는 23면 프리즘 또는 391 이빨 디스크와 평면 거울을 사용합니다. 측정 대상 축의 각도 위치 측정 시스템의 디지털 디스플레이에서 0 위치에서 시작하여, 프리즘의 면 1 또는 디스크의 0 위치를 광학 튜브에 정렬하고 광학 튜브 판독값 C₁을 기록합니다. 그런 다음, 순차적으로 위치 명령 Ci (i=1,…,23)를 부여하여 측정 대상 축을 프리즘이 지정한 각도 위치만큼 회전시키고 광학 튜브 판독값 Ci를 기록합니다. 다중 이빨 디스크를 사용하는 경우, 측정 대상 축이 회전한 각도만큼 반대 방향으로 디스크를 회전시켜 평면 거울을 광학 튜브에 정렬합니다.
4.2 간접 실험 방법
4.2.1 각도 위치 결정 반복성
4.2.1.1 각도 위치 측정 반복성
각도 위치 측정 반복성 Eα는 방법 104의 항목 4.1 및 5.1에 따라 얻습니다.
4.2.1.2 각도 위치 제어 반복성
각도 위치 제어 반복성 Eαc는 방법 105의 항목 4.1 및 5.1에 따라 얻습니다.
4.2.2 각도 위치 결정 정확도
4.2.2.1 각도 위치 측정 정확도
각도 위치 측정 정확도 +Uα 및 -Uα는 방법 104의 항목 4.2 및 5.2에 따라 얻습니다.
4.2.2.2 각도 위치 제어 정확도
각도 위치 제어 정확도 Uαc는 방법 105의 항목 4.2 및 5.2에 따라 얻습니다.
5. 데이터 처리 및 결과 평가
5.1 직접 실험 방법
5.1.1 각도 위치 결정 반복성
방법 104의 섹션 5.1에 따라 진행합니다.
5.1.2 각도 위치 결정 정확도
5.1.2.1 구성 요소 시험 방법
방법 104의 섹션 5.2.1에 따라 진행합니다.
5.1.2.2 종합 시험 방법
방법 104의 섹션 5.2.2에 따라 진행합니다.
5.2 간접 실험 방법
5.2.1 각도 위치 결정 반복성
5.2.2 각도 위치 결정 정확도
각도 위치 결정 정확도는 +Uαp 및 -Uαp입니다.
방법 106
각도 위치 결정 시험
1. 시험 목적
각도 위치 제어 상태에서 360° 범위 내의 임의의 제어된 각도 위치에서 시험용 턴테이블의 반복성과 위치 결정 정확도.
2. 시험 장비
소각도 측정기;
분해능이 0.1" 이상인 광전 자동 콜리메이터 (이하 광학 튜브라 함);
360개의 이빨을 가진 다중 이빨 인덱싱 테이블 (이하 360 이빨 디스크라 함) 및 평면 거울;
391개의 이빨을 가진 다중 이빨 인덱싱 테이블 (이하 391 이빨 디스크라 함) 및 평면 거울;
23면 프리즘, 레벨 1;
24면 프리즘, 레벨 1.
3. 시험 환경 조건
주변 온도: 20±2℃;
상대 습도: <70%.
진동 절연 요구 사항: 시험 대상 턴테이블은 진동 절연 기초 위에 배치되어야 하며, 주변에 심각한 진동이나 충격이 없어야 합니다.
전자기장 요구 사항: 시험 장소 주변에 강한 전자기 간섭이 없어야 합니다.
4. 시험 방법
시험 전에, 측정 대상 축의 회전 중심에 다중 이빨 디스크와 평면 거울 또는 다면 프리즘을 설치합니다. 광학 튜브를 측정 대상 축의 고정 부분 또는 잘 절연된 기초 위에 설치하고, 광학 튜브의 광축이 평면 거울 또는 프리즘 면에 수직이 되도록 합니다. 턴테이블을 시작하고 각도 위치 제어 상태에서 정상적이고 안정적으로 작동하는지 확인합니다.
4.1 직접 시험 방법
4.1.1 각도 위치 결정 반복성
실험에서는 23면 프리즘 또는 391 이빨 디스크와 평면 거울을 사용합니다. 시험 대상 축의 임의의 각도 위치 θ₁에서 시작하여, 프리즘의 면 I 또는 평면 거울을 광학 튜브에 정렬하고 광학 튜브 판독값 a₁i를 기록합니다. 그런 다음, 순차적으로 위치 명령 Ai (i=1,…,23)를 부여하여 시험 대상 축을 프리즘의 지정된 각도 값만큼 회전시키고 해당 광학 튜브 판독값 a₁i를 기록합니다. 그런 다음, θ₁에서 시작하여 반대 방향으로 시험 대상 축을 회전시키고 위의 실험을 반복하여 해당 광학 튜브 판독값 a₂i를 기록합니다. 다중 이빨 디스크를 사용하는 경우, 평면 거울을 광학 튜브에 정렬하기 위해 회전 축이 회전한 각도만큼 반대 방향으로 디스크를 회전시켜야 합니다.
4.1.2 각도 위치 결정 정확도
4.1.2.1 구성 요소 시험 방법
4.1.2.1.1 인덱싱 정확도
실험에서는 24면 프리즘 또는 360 이빨 디스크와 평면 거울을 사용합니다. 측정 대상 축의 각도 위치 측정 시스템의 디지털 디스플레이에서 0 위치에서 시작하여, 프리즘의 면 I 또는 다중 이빨 디스크의 0 위치를 광학 튜브에 정렬하고 광학 튜브 판독값 a₁을 기록합니다. 그런 다음, 순차적으로 위치 명령 Ai (i=1,…,24)를 부여하여 측정 대상 축을 프리즘의 지정된 각도 위치만큼 회전시키고 광학 튜브 판독값 a₁i를 기록합니다. 다중 이빨 디스크를 사용하는 경우, 평면 거울을 광학 튜브에 정렬하기 위해 측정 대상 축이 회전한 각도만큼 반대 방향으로 디스크를 회전시켜야 합니다.
4.1.2.1.2 분할 정확도
소각도 측정기를 사용하여, 선택된 소각도 측정기의 특정 요구 사항에 따라, 회전 부분을 측정 대상 축에 장착하고, 고정 부분을 측정 대상 축의 고정 부분 또는 양호한 진동 절연 기초에 장착합니다.
측정 대상 축의 360° 범위 내에서 세 개의 각도 위치를 선택하여 분할 시험을 수행합니다. 각도 위치 측정 시스템은 0° 위치에서 사용되었으며, 인덱싱 정확도 시험에서 얻은 최대 양수 및 음수 오차의 각도 위치 θm 및 θn을 사용합니다. 분할 각도 간격의 선택은 다음과 같습니다. 720극 유도 동기 장치를 각도 측정 요소로 사용하는 경우, 분할 각도 간격은 1°이고, 분할 지점 수는 17개입니다. 다른 각도 측정 요소를 사용하는 경우, 각도 간격은 분할의 한 사이클로 선택되고, 분할 지점 수는 9개 이상입니다.
0° 위치 분할 정확도 시험은 측정 대상 축 각도 위치 측정 시스템의 0° 위치에서 시작합니다. 소각도 측정기 판독값 b₀₁을 기록하고, 순차적으로 위치 명령 Bi (i=1,…17)를 부여하여 측정 대상 축을 매번 1°/17씩 회전시키고 소각도 측정기 판독값 b₀i를 기록합니다.
θm 및 θn의 위치 분할 정확도에 대한 시험 방법은 위와 동일하며, 소각도 측정기 판독값은 각각 b₁i 및 b₂i로 기록됩니다.
4.1.2.2 종합 시험 방법
실험에서는 23면 프리즘 또는 391 이빨 디스크와 평면 거울을 사용합니다. 측정 대상 축의 각도 위치 측정 시스템의 디지털 디스플레이에서 0 위치에서 시작하여, 프리즘의 면 1 또는 디스크의 0 위치를 광학 튜브에 정렬하고 광학 튜브 판독값 C₁을 기록합니다. 그런 다음, 순차적으로 위치 명령 Ci (i=1,…,23)를 부여하여 측정 대상 축을 프리즘이 지정한 각도 위치만큼 회전시키고 광학 튜브 판독값 Ci를 기록합니다. 다중 이빨 디스크를 사용하는 경우, 측정 대상 축이 회전한 각도만큼 반대 방향으로 디스크를 회전시켜 평면 거울을 광학 튜브에 정렬합니다.
4.2 간접 실험 방법
4.2.1 각도 위치 결정 반복성
4.2.1.1 각도 위치 측정 반복성
각도 위치 측정 반복성 Eα는 방법 104의 항목 4.1 및 5.1에 따라 얻습니다.
4.2.1.2 각도 위치 제어 반복성
각도 위치 제어 반복성 Eαc는 방법 105의 항목 4.1 및 5.1에 따라 얻습니다.
4.2.2 각도 위치 결정 정확도
4.2.2.1 각도 위치 측정 정확도
각도 위치 측정 정확도 +Uα 및 -Uα는 방법 104의 항목 4.2 및 5.2에 따라 얻습니다.
4.2.2.2 각도 위치 제어 정확도
각도 위치 제어 정확도 Uαc는 방법 105의 항목 4.2 및 5.2에 따라 얻습니다.
5. 데이터 처리 및 결과 평가
5.1 직접 실험 방법
5.1.1 각도 위치 결정 반복성
방법 104의 섹션 5.1에 따라 진행합니다.
5.1.2 각도 위치 결정 정확도
5.1.2.1 구성 요소 시험 방법
방법 104의 섹션 5.2.1에 따라 진행합니다.
5.1.2.2 종합 시험 방법
방법 104의 섹션 5.2.2에 따라 진행합니다.
5.2 간접 실험 방법
5.2.1 각도 위치 결정 반복성
5.2.2 각도 위치 결정 정확도
각도 위치 결정 정확도는 +Uαp 및 -Uαp입니다.
